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XRF-2000荧光金属镀层测厚仪

XRF-2000荧光金属镀层测厚仪
产品描述: 韩国Micro Pioneer金属镀层测厚仪XRF-2000         韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层...

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产品介绍
产品描述:

韩国Micro Pioneer金属镀层测厚仪XRF-2000
 
      韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度.
 
可选型号:
Type H : 测量一般工件
Type L :测量一般PCB/半导体产品
Type PCB :开放式设计,特大PCB适用
 
可测元素范围:
 
钛(Ti) – 铀(U)
 
测量厚度范围:
 
原子序数  22-25, 0.1-0.8μm
26-40, 0.05-35μm
43-52, 0.1-100μm
72-82, 0.05-5μm
 
X-射线管:油冷,超微细对焦
 
高压:0-50KV(程控)
 
准直器:
 
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
 
自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
 
电脑系统:IBM相容,17”显示器
 
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
 
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
 
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
 
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
 
光谱对比功能:可将样品光谱和标准件光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
 
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质